Setningseksempler av lav kvalitet
Tydelig moderne atomic force mikroskopi er for bred et område for one size fits all, og det er derfor vi hos Atomic Force F & E er virkelig fornøyd med forskningen synergiene
Clearly, modern atomic force microscopy is too broad an area for one size fits all, and that's why we at Atomic Force F&E are really pleased by the research synergies that the CypherAsyl Research, et selskap som tilbyr scanning probe/ atomic force mikroskopi(AFM/ SPM)
Asylum Research, a company that provides scanning probe/atomic force microscopy(AFM/SPM) solutions,brukte atomic force mikroskopi til bilde i sanntid hvordan S-lag proteiner danne krystaller i en celle-lignende miljø.
have used atomic force microscopy to image in real time how S-layer proteins form crystals in a cell-like environment.Det kombinerer invertert optiske og atomic force microscopies og slipper løs all den makt begge teknikkene gir instrumentet justering
It perfectly combines inverted optical and atomic force microscopies and unleashes all the power of both techniques providing the instrument adjustmentAsyl Forskning, annonserte teknologileder i scanning probe og atomic force mikroskopi(SPM/ AFM) i dag at den revolusjonerende Cypher AFM er rutinemessig oppnår oppløsning av atom-skala punkt defekter i væske.
Asylum Research, the technology leader in scanning probe and atomic force microscopy(SPM/AFM) announced today that its revolutionary Cypher AFM is routinely achieving resolution of atomic-scale point defects in liquid.
Asyl Forskning, teknologien innen scanning probe/ atomic force mikroskopi(AFM/ SPM), tilbyr sine full-funksjon MFP-3D og Cypher Atomic Force Mikroskoper(AFMs) med overlegne evner som krever ingen programmering for å utføre avansert bildebehandling og målinger.
Asylum Research, the technology leader in scanning probe/atomic force microscopy(AFM/SPM), provides its full-function MFP-3D and Cypher Atomic Force Microscopes(AFMs) with superior capabilities which require no programming to perform advanced imaging and measurements.fortsette å kjøre oss å opprettholde vår fremste som teknologileder i scanning probe og atomic force mikroskopi..
continue to drive us to maintain our preeminence as the technology leader in scanning probe and atomic force microscopy..blant annet Atomic Force Mikroskopi, vil være en del av MSSU også.
including Atomic Force Microscopy, will be part of the MSSU as well.Stammer fra den brede feltet av Atomic Force Mikroskopi(AFM), gir kraft spektroskopi den nødvendige følsomheten til å karakterisere biomolekylære interaksjoner som unfolding kreftene enkelt proteiner
Originating from the broad field of Atomic Force Microscopy(AFM), Asyl Forskning, teknologien innen Scanning Probe og Atomic force mikroskopi(SPM/ AFM), har annonsert en ny bevilgning program for tidlige å utforske mulighetene
Asylum Research, the technology leader in Scanning Probe and Atomic Force Microscopy(SPM/AFM), has announced a new grant program for early adopters to explore the capabilitiesslik at de kan installeres i nesten alle typer scanning elektronmikroskop(SEM), atomic force mikroskop(AFM) eller lysmikroskop(LM.
allowing them to be installed into virtually every type of scanning electron microscope(SEM), atomic force microscope(AFM) or light microscope(LM.myke materie, gir en unik programvarepakke for å gjøre visningen av lysmikroskopi bilder sammen med atomic force mikroskopi bilder en sømløs øvelse.
provides a unique software package to make the display of light microscopy images together with atomic force microscopy images a seamless exercise.Asyl Forskning, teknologien innen Scanning Probe og Atomic Force mikroskopi, og Oak Ridge National Laboratory(ORNL)
Asylum Research, the technology leader in Scanning Probe and Atomic Force microscopy, and Oak Ridge National Laboratory(ORNL)for bruk i Atomic force mikroskop(AFM.
for use in Atomic Force Microscopes(AFM.patenter fyre sitt gjennombrudd, gir FastScan forskere en unik evne til å bruke atomic force mikroskopi for nye applikasjoner som krever høyere skannehastighet som tidligere bare var tilgjengelige på et forsknings-grade AFM..
FastScan provides researchers the unique ability to use atomic force microscopy for new applications requiring higher scanning speeds that previously just were not available on a research-grade AFM..DeYoreo og kolleger ansatt i situ atomic force mikroskopi-en sonde teknikk som brukes til å studere en krystall overflate i sine naturlige omgivelser med atom presisjon-å se S-lag proteiner montere fra løsningen på en flat,
DeYoreo and colleagues employed in situ atomic force microscopy- a probe technique used to study a crystal's surface in its natural setting with en høy oppløsning atomic force mikroskop(AFM) som bruker en fullt adresserbare 200mm x 200mm scenen og en lav-støy AFM design image
capabilities to its 5600LS, a high-resolution atomic force microscope(AFM) that uses a fully addressable 200mm x 200mm stage and a low-noise AFMNT-MDT er stolte av å kunngjøre at den nye Solver Next har fått den ettertraktede R & D 100 prisen for den første kommersielle scanning probe mikroskop med både Atomic Force Mikroskopi(AFM) og scanning tunneling mikroskopi(STM) under en hette.
NT-MDT is proud to announce that its new Solver Next has received the coveted R&D 100 award for the first commercial scanning probe microscope featuring both Atomic Force Microscopy(AFM) and Scanning Tunneling Microscopy(STM) under one hood.Benjamin Holmes, Sales Manager hos våre europeiske datterselskap Atomic Force F & E GmbH kommenterte,"Fra hovedrollen i den fiktive CSI Miami TV-show til å bli valgt av CSI Darmstadt,
Benjamin Holmes, Sales Manager at our European subsidiary Atomic Force F&E GmbH commented,"From starring in the fictional CSI Miami television show to being chosen by the CSI Darmstadt, once again Asylum Research AFMs arekalibrert elektrisk måling mulighetene i en mikrobølgeovn vektor nettverk analysator(VNA) med nanoskala romlig oppløsning og høy presisjon posisjonering av en atomic force mikroskop for første gang.
microwave vector network analyzer(VNA) with the nanoscale spatial resolution and high-precision positioning of an atomic force microscope.
