SCANNING ELECTRON MICROSCOPE in Japanese translation

• 走査電子顕微鏡

Examples of using Scanning electron microscope in English and their translations into Japanese

The JSM-IT100, equipped with 50 years of JEOL SEM technologies, is a compact, versatile scanning electron microscope.
JSM-IT100は、日本電子が50年にわたり培ってきたSEMの技術を活かしたコンパクトで多機能な走査電子顕微鏡です。

Mario De Stefano of the Second University of Naples, Italy, captured this miniscule"jungle" from the Mediterranean Sea with a scanning electron microscope.
イタリア、ナポリ第2大学のマリオ・デ・ステファノさんが、地中海から採取したこの“極微のジャングル”を走査型電子顕微鏡でとらえた。

Scanning electron microscope images revealed that dendrites did not grow on the anode, and its volume varied little on charging and discharging.
走査電子顕微鏡像からは、アノード表面にデンドライトは成長しておらず、また充放電時にもアノードの体積がほとんど変化しないことが明らかになった。

The Scanning Electron Microscope(SEM) introduced here utilizes an electron beam whose wavelength is shorter than that of light and therefore observing a structure down to several nm in scale becomes possible.
ここで紹介する走査電子顕微鏡(SEM)は、この光の代わりに波長の短い電子線を利用して、数nm[ナノメートル]程度の構造まで観察できます。

In addition to this, the"scanning electron microscope" and the"atomic force microscope" exhibits and the"Micromachine Studio" on the 3F"Innovation and the Future" will be terminated after May 10 Mon.
また、3階「技術革新と未来」の「走査型電子顕微鏡」「原子間力顕微鏡」「マイクロマシン工房」は5月10日(月)をもちまして展示を終了させていただきます。

When we analyzed the structure of the newly discovered undulating structure using a scanning electron microscope(SEM), we learned that the direction and intervals of the undulating structure differed depending upon the crystal grain.
今回新たに発見した波状の構造を、走査型電子顕微鏡(SEM)で分析したところ、結晶粒によって波の向きと間隔が異なっていることが分かりました。

The abovementioned research utilized a scanning electron microscope(SEM) at Tokai's Imaging Center for Advanced Research to obtain data to recreate a dragonfly's wings, including the nodus, using a 3-D printer.
今回の研究では、本学のイメージング研究センターに導入されている走査型電子顕微鏡(SEM)を使って得たデータをもとに、3Dプリンターで結節を持つ翅を再現。

The figure below shows a schematic outline and a scanning electron microscope image of a three-dimensional microstructure, and a white light-emitting element based on such a structure.
下の写真は,三次元マイクロ構造の概略図とその走査型電子顕微鏡写真,およびそれが白色発光をしている様子を示している。

We characterized the food texture by texture analyzer and scanning electron microscope. We predicted the performance of the edible film by finite element(FE) simulations with software ABAQUS.
テクスチャ分析器と走査型電子顕微鏡で食品の質感を作り、ソフトウェア「ABAQUS」を用いた有限要素(FE)シミュレーションで、フィルムの性能を予測しました。

From large vacuum hot press, laser processing machine, high precision temperature uniformity evaluation system, scanning electron microscope, X-ray imaging system, three-dimensional coordinate measuring machine, to class 100/1000 clean room.
大型真空ホットプレス、レーザー加工機、高精度温度均一性評価装置、走査型電子顕微鏡、Ｘ線撮像装置、三次元座標測定機から、はてはクラス100/1000クリーンルームまで。

XMF aggressively invest large funds to establish laboratory, bring in advanced precision X-ray analyzer and scanning electron microscope to improve its R&D ability.
XMFは積極的に実験室を確立するために大きい資金を投資しましたり高度の精密X線の検光子および走査型電子顕微鏡をR&Dの能力を改善するために持って来ます。

OYO BUTURI Vol.87 No.10(2018)- JSAP Scanning electron microscope images and simulated heat flux distributions in Si membrane thermal lens structures.
応用物理第87巻第10号(2018)-応用物理学会シリコン薄膜における集熱を実現した構造の走査型電子顕微鏡像と,熱フラックスの空間分布シミュレーション。

The generation source of electron beam can be easily oxidized, and the performance gets deteriorated. If a slightest difference was felt, it was necessary to check it with a SEM(scanning electron microscope). It was tough to repeat the steps. For development works, we should not spare ourselves.”.
電子ビームの発生源は、ちょっとしたことでも酸化し、性能が落ちるので、少しでも違和感があるとすぐにSEM（走査電子顕微鏡）で調べなければなりません。その繰り返しが大変でした。開発は労をいとってはいけないのです。」。

As an important contributor to the national"Phoenix Project" initiative, the New Building will be equipped with advanced equipment covering proteins, magnetic resonance and optical microscopic imagery, and also a state-of-the-art cryo scanning electron microscope(Cryo-SEM) to render the best support to the study of structural biology and biological macromolecules.
国家「PhoenixProject」イニシアチブの重要な貢献者として、新棟は蛋白質、磁気共鳴、光学顕微鏡画像、さらに最先端のクライオ走査電子顕微鏡（Cryo-SEM）を装備し、構造生物学および生物学的高分子の研究に最高の支援を与える。

Home>Standard Chillers>Lab chiller for scanning electron microscopes.
ホーム>標準冷凍機>走査電子顕微鏡用ラボチラー。

S&A RM-300 lab chiller is fit for cooling scanning electron microscopes, both characterized by big pump lift and pump flow, which can completely meet the cooling requirement of lab equipment.
SとARM-300ラボチラーは、走査型電子顕微鏡の冷却に適しています。どちらも大きなポンプリフトとポンプ流量によって特徴付けられます。ラボ機器の冷却要件を満たします。

Scanning Electron Microscope.
走査型電子顕微鏡。

Scanning Electron Microscope.
走査型電子顕微鏡(SEM)。

Compact Scanning Electron Microscope.
小型走査型電子顕微鏡。

The Scanning Electron Microscope.
は電子顕微鏡。