ウェハ - 英語 への翻訳

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日本語 での ウェハ の使用例とその 英語 への翻訳

ウェハにかかるストレスを最小限に抑えてテープの剥離を行うため、薄型ウェハの処理にも対応します。
The technique minimizes stress to the wafer while the tape is peeled, allowing the equipment to process thin wafers..

ウェハ上のIDナンバーを読み取り、そのデータをバーコード化してラベルを貼りつけます。
With this system, an ID number on the wafer is read, the data is then converted to barcode, and a label is attached.

LEDチップ製造元は、ウェハ上に来る半導体チップを製造しています。
The LED Chip Manufacturer produces semiconductor chips that come on wafers.

ウェハ表面の汚染が極めて少ないため、バックグラインド後のウェハ洗浄が不要です。
Since contamination on the wafer surface is extremely minimal, the wafer does not require cleaning after back grinding.

WLPの主な特長は、パッケージの製造とテストがすべてウェハ上で行なわれることです。
The major benefit of WLP is that all package fabrication and testing is done on wafer.

一実施形態では、ステップ１２は、ウェハ検査中に実行される。
In one embodiment, step 12 may be performed during the wafer inspection.

そのような一実施形態では、欠陥を分類することは、ウェハの検査時に検査システムにより実行される。
In one such embodiment, classifying the defects is performed by the inspection system during inspection of the wafer.

高度なアニーリング用のレーザー処理機器、高度なパッケージングおよびHBLEDリソグラフィ用のフォトリソグラフィステッパー、インラインウェハモニタリング用の検査システム、研究におけるさまざまな用途で用いられるALD装置などの幅広い製品群を取り揃えています。
Broad product portfolio includes laser processing equipment for advanced annealing, photolithography steppers for advanced packaging and HBLED lithography, inspection systems for inline wafer monitoring and ALD equipment used in research for a variety of applications.

ウェハ裏面やチャック機構からの散乱光の影響のため散乱光方式での検査が困難な石英ウェハを、ミラーポリッシュウェハと同等の感度で検査可能。
Quartz wafer, difficult to be inspected by the light scattering method due to the effect of scattered light from wafer back surface and wafer chucking mechanism, can be inspected by similar sensitivity as that for wafers covered by layers.

FZウェハの用途として、MEMS、ダイオード、IGBT、RFデバイス、サイリスタ(整流器)、高効率の太陽電池、光学製品などが挙げられます。
The application of FZ wafers includes MEMS, diode, IGBT, RF device, thyristors(rectifier), high efficiency solar cell and optical products.

トリナ・ソーラーは、単結晶・多結晶シリコンのインゴットやウェハ、セルの製造から高品質モジュールの組み立てまでを一貫して行う垂直統合型ビジネスモデルを展開している、世界でも数少ない太陽光発電メーカーの一つです。
Trina Solar is one of the few PV manufacturers that have developed a vertically integrated business model from the production of monocrystalline and multicrystalline silicon ingots, wafers and cells to the assembly of high quality modules.

KV10000PFウェハ状の高電圧セラミックコンデンサは、製品の非常に広範な使用ですが、いくつかのポイントは、製品の場合、顧客に明確な顧客の要求への勧告を説明する必要があり…。
KV10000PF wafer in the form of high-voltage ceramic capacitor, is a very widespread use of the products, but some points that explain the case of products, clear recommendation of the client's requirements for the client.

ウェハ空間において、設計データの属性及びホット・スポットに関する情報（例えば、ホット・スポット・データベースからの情報）を使用して、監視フェーズにおいて検査レシピーをセットアップすることができる。
In wafer space, attributes of the design data and information about hot spots(e.g., information from a hot spot database) may be used to setup an inspection recipe in the monitoring phase.

Linbo3結晶は、ポッケルスセル、qスイッチ、位相変調器、導波路基板、表面弾性波（のこぎり）ウェハなどに最も一般的に使用されている材料です。
LiNbO3 crystals are the most commonly used material for pockel cells, Q-switches and phase modulators, waveguide substrates, surface acoustic wave(SAW) wafers, etc.

近年、急速な半導体の微細化・大容量化の進展に伴い、最先端の半導体やウェハ製造プロセスで使用する超純水の更なる純度向上が求められています。
In recent years, due to the rapid miniaturization of semiconductors and simultaneous increase in capacity, it has become necessary to further boost the purity of the ultrapure water used in the cutting-edge semiconductor and wafer manufacturing processes.

この利点のために、ガー基板上に成長されたインガン太陽電池は、ガー基板ウェハにとって最も重要な新しい用途および成長市場の1つになるであろう。
Because of this advantage, InGaN solar cells grown on GaN substrates are poised to become one of the most important new applications and growth market for GaN substrate wafers.

マキシムで実行されているロット追跡調査プログラム、広範囲な信頼性監視プログラム、不良解析サポート、ウェハ受領時の総合的パラメトリック試験、およびワールドワイドのフィールドアプリケーションサポート(すべて無料)は業界随一です。
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検査レシピーのセットアップ時に、連続するスワス間の比較的大きなオーバーラップ（例えば、５０％のオーバーラップ）でウェハをスキャンし、スワス間オーバーラップ領域内の好適なアライメント部位を決定することができる。
During the setup of an inspection recipe, the wafer can be scanned with a relatively large overlap between consecutive swaths(e.g. 50% overlap) to determine suitable alignment sites in the inter-swath overlap regions.

一方、GaNデバイスの普及においては、ウェハ製造コスト、多数の結晶・加工欠陥が未だ障害となっており、ウェハの品質改善が求められています。
GaN, on the other hand, lags behind in device usage, hindered by the high cost of GaN wafer manufacturing and the presence of numerous crystallographic and process defects in wafers, requiring further efforts in wafer quality improvement.

技術的用途のための単結晶サファイア:IRおよびUV窓、プラズマチューブ、エレクトロニクス用途のための基板とウェハ、半導体加工、高温及び攻撃的酸性環境。
Single crystal sapphire for technical applications: IR and UV windows, plasma tubes, substrates and wafers for applications in electronics, semiconductor processing, high temperature and aggressive acidic environments.