故障解析 - 英語 への翻訳

• failure analysis
• fault analysis

日本語 での 故障解析 の使用例とその 英語 への翻訳

パワーMOSFETの故障解析。
Failure analysis of power MOSFETs.

半導体故障解析、ステルスダイシングなど。
Semiconductor failure analysis, stealth dicing, etc.

故障解析技術の必要性。
Failure Analysis Technology.

購入したICの故障解析。
Failure analysis of purchased ICs.

Iii故障解析/追跡できない原因。
Iii Failure Analysis/Untraceable Causes.

それは最初の故障解析です。
It is the first failure analysis….

第3章半導体デバイスの故障解析故障解析とは。
Chapter 3 Semiconductor Device Failure Analysis 3.1 What is Failure Analysis?

集積回路の物理的および故障解析に関する国際シンポジウム。
International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits.

NESC＆OSHA法を用いたアーク故障解析。
Arc fault analysis using NESC& OSHA methods.

ハイパワーデバイスにおいての10kVテスト環境での故障解析。
KV test environment for failure analysis on high power devices.

自動車用ポンプのメカニカルシールの故障解析と是正措置。
Failure analysis and corrective measures for automotive pump mechanical seals.

SEM、IR、X-RAYなどの拡張故障解析ラボツール。
Extensive failure analysis lab tools such as SEM, IR and X-RAY.

EDAツールとの連携によるSCAN故障解析を行うことができます。
SCAN failure analysis can be performed by the linkage function with following IPs.

高周波回路設計時のシミュレーション結果との比較や故障解析に最適です。
Suit for comparison of simulation results and failure analysis on design of high-frequency.

ANSYSmedini解析は、システムでの過渡故障解析をサポートしています。
ANSYS medini analyze now supports transient failure analysis in the systems suite.

シノプシスCamelotTMのダイレベル故障解析機能を、パッケージ産業向けに拡張しています。
It extends Synopsys CamelotTM die-level failure analysis capabilities to the packaging industry.

また、このようなウェブフォーラムでの故障解析用として、テキストファイルとして結果をエクスポートします。
In addition to export findings as a text file, such as for failure analysis in web forums.

故障解析クロムジルコニウム銅エンドリングメイン故障の原因と、そこでのモータを動作させます:1。
Failure Analysis Chromium zirconium copper end ring main cause of failure during the motor operation: 1.

故障解析するときの注意点は何ですか?(製品を基板から取り外すときの注意点は何ですか?)|村田製作所。
What are the points to be noted when analyzing a breakdown?(What are the precautions for removing the product from the board?)| Murata Manufacturing Co..

また、デバイスの外観検査、機能検査、選別、故障解析、信頼性試験などの品質サポートを行っています。
We also provide quality support such as reliability test, troubleshooting, sampling, function test, and device's visual inspection.