英語 での Probe card の使用例とその 日本語 への翻訳
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FormFactor delivers a milestone shipment:(X256) DRAM probe card- a 300mm 4 TD probe card.
フォームファクターはマイルストーンとなる、(X256)DRAMプローブカード(300mm4TDプローブカード)を出荷します。Thanks to their easy maintenance and stable contact, these contact terminals are used in test sockets from the BeeContacts series and the probe card for WLCSP.
メンテナンス性と接触安定性に優れており、テストソケット「BeeContacts」や、WLCSP向けのプローブカードに使用しています。Company shows growth and market share gains in both the advanced probe card and MEMS probe card sectors.
同社は、高度なプローブカードとMEMSプローブカードの両方の分野で成長と市場シェア獲得を示しています。Hard particles can crush probe tips and are a leading cause of premature, catastrophic probe card failure.
チップを粉砕し、時期尚早、壊滅的なプローブカードの障害の主要な原因であることができます。Inspect and assess- understand potential probe card defects and their impact, and what can be repaired or resolved.
検査と評価-起こりうるプローブカードの不具合とその影響、修復または解決できる内容について理解します。All related documentation will be reviewed so that every attendee fully understands how to optimize probe card life.
すべての参加者がプローブカードの寿命を最適化する方法を完全に理解できるように、すべての関連文書がレビューされます。Probe card employs FormFactor's advanced TRETM technology to extend available test capacity.
プローブカードはFormFactorの高度なTRETMテクノロジーを使用して、利用可能なテスト容量を拡張します。New probe card uses system approach to deliver greater productivity and lower test cost per die.
新しいプローブカードは、システムアプローチを使用して、ダイごとの生産性を高め、テストコストを削減します。The Takumi probe card also features an interchangeable probe interface that greatly improves total cost of ownership and probe card uptime.
Takumiプローブカードは、総所有コストとプローブカードの稼働時間を大幅に改善する交換可能なプローブインターフェイスも備えています。FormFactor's Pyramid-MW Probe card delivers an ultra-durable photo-lithographically defined fine-pitch tip structure that probes smaller pads….
フォームファクタのピラミッド-MWプローブカードは、小さなパッドをプローブ超耐久性のあるフォトリソグラフィで定義されたファインピッチの先端構造を実現します…。FormFactor Launches new Technology to Improve Automated Probe Card Alignment and Speed the Wafer Test Process- FormFactor, Inc.
FormFactorは、自動化されたプローブカードの位置合わせを改善し、ウェーハテストプロセスを高速化する新しいテクノロジーを開始します-FormFactor、Inc。Clean both off-line and online- reduce particles and contamination build-up for sustainable testing and extend probe card life.
オフラインとオンラインのクリーニング-持続可能なテストとプローブカードの寿命延長のために、粒子と汚染物質の蓄積を減らします。Wide temperature compatibility for more controlled probing and faster setup, higher probe card availability and better test throughput.
広い温度互換性による、制御されたプロービングと速いセットアップ、高いプローブカードの可用性と高い試験スループット。Classroom training- The classroom training will cover handling and maintaining the Pyramid Probe card.
教室トレーニング-教室でのトレーニングでは、PyramidProbeカードの取り扱いと保守について説明します。Strong probe card demand in Foundry and Logic, aside from delay in large customer's ramp.
大規模な顧客の急増の遅れを除き、FoundryandLogicでのプローブカードの強い需要。FormFactor ships full-wafer DRAM probe card. A 300mm 2 TD probe card.
フォームファクターはフルウェーハDRAMプローブカードである、300mm2TDプローブカードを出荷します。FFI supplies engineering probe system and advanced MEMS probe card to test every chip inside HBM stack.
FFI社は、HBMスタック内のすべてのチップを試験するためのエンジニアリングプローブシステムと高度なMEMSプローブカードを提供しています。In addition to multiple offices for local employees, the facility will also include a cleanroom to perform probe card repair.
現地従業員のための複数のオフィスに加えて、施設は、プローブカードの修復を実行するにはクリーンルームが含まれます。FormFactor's PH100 and PH150 advanced wafer probe cards use the MicroSpringTM interconnect, FormFactor's patented probe contact technology, to make reliable contact and provide greater than 9000 wafer contacts per probe card.
FormFactorのPH100およびPH150アドバンストウェーハプローブカードは、FormFactorの特許取得済みプローブコンタクトテクノロジーであるMicroSpringTM相互接続を使用して、信頼性の高い接触を行い、プローブカードごとに9000を超えるウェーハコンタクトを提供します。In an electrical test, test signals from a measuring instrument or tester are transmitted to individual devices on a wafer via probe needles or a probe card and the signals are then returned from the device.
電気的検査では、ウェーハ上の個々のデバイスに、測定器やテスタからテスト信号をプローブ針やプローブカードを介して与え、デバイスからの応答信号を戻します。
